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製品情報

フライングプローブテスタ

APT-1340J

業界トップクラスの
超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

APT-1340J は従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50%アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度・広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。

岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。

検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。

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スペック

プローブ数4本
検査ステップ数最大 350,000ステップ
測定スピード0.02秒/step~
最小コンタクトパッドサイズ60μm
プローブ位置決め繰り返し精度±25μ~
最小プロービングピッチ0.15 mm
検査可能サイズL540×D483mm
オプションで890x483mmまで拡張
使用電源/エアー電源:AC200~240V(単相)
     50/60Hz、最大2.8kVA
エアー:0.6~0.8Mpa(ドライエアー)
寸法、重量W1400×D1500×H1400mm
1350kg(インライン機は1400kg)

測定範囲

DC電圧 / 電流±125V / ±1A(オプション:±2Aまで)
AC電圧150mV ~ 75Vrms, f = 10Hz ~ 0.5MHz
周波数1Hz ~ 20MHz / 2V ~ 20Vp-p
抵抗5mΩ ~ 50MΩ *カスタム2mΩ~
キャパシタンス0.5pF ~ 200mF
インダクタンス0.5μH ~ 500H
インピーダンス / 位相角2.5Ω ~ 3.3MΩ / ±90°
トランスインダクタンス、巻線比、位相差
PN接合VF測定0.1V ~ 40V
ツェナーダイオード電圧0.1V ~ 40V(オプション:max.80Vまで)
オープンチェック閾値5Ω ~ 50MΩで設定可能(標準100Ω以上)
ショートチェック閾値1Ω ~ 500KΩで設定可能(標準10Ω以下)
ダイオード / トランジスタ / FETPN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性
リレー / フォトカプラー / スイッチ素子ONテスト

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製品のカタログは以下のイプロス特設サイトよりご覧いただけます。

その他

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用途/実績例【採用業界】
 EMS,EMDS企業
 半導体製造装置関係
 通信インフラ・サーバー
 車載・航空機・船舶
 医療機器
 産業機械、ロボット
 FA工作機械
 発電、電力システム


【活用事例】
■量産品の検査 
 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査

■多品種少量基板の検査 
 専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易

■試作基板の検査 
 設計変更に即応したファンクションテスト(基板に電圧を印加し、回路動作(ON/OFF)の確認や直流電流の測定)

■機種切り替え時の実装確認検査 
 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認

■不良解析検査 
 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析

他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。
詳しくは営業担当までお問い合わせください。
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