APT-7400CJ
世界最高水準の検査速度と位置決め精度を実現
APT-7400CJ
フィクスチャレステスタAPT-7400CJはフライングプローブ(プローブ移動)方式のインサーキットテスタです。マイクロショートや部品の定数間違いなど、外観検査やファンクションテストでは検出できないアセンブル不良を確実に検出することができます。プローブのファインピッチコンタクトにより高密度SMTボードも簡単にテストできます。
コストパフォーマンスを追求するとともに、同方式のボードテスタにおいて世界最高水準の検査速度と位置決め精度を実現したAPT-7400CJは、ボードの検査コスト削減と品質保証に大きく貢献します。
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主な特徴
  • 高い不良検出能力
  • 全てのフライングプローブ間で最小コンタクトピッチ0.2mmを実現しているため、ICリード間の目では見えないマイクロショート、小さな0603チップの定数間違いや誤配も容易に検出できます。
    また、電気的な検査のため部品下の断線なども検出できます。

  • 複雑な回路構成のSMTボードも高精度に測定
    4端子ケルビン測定や位相分離測定などの機能を搭載した最新の測定部や、他の部品の影響を排除するためのガードポイント自動検索機能により、LCRをはじめとする電子部品を高速且つ高精度に測定します。
  • 業界最高水準の位置決め精度
    優れた反り矯正機構を搭載したXYZステージのベースには、硬度が高く経年変化も起こしにくい石定盤を採用しています。ステージの平面精度を恒久的に保持するとともに、プローブ位置決め精度を高次元で確立させています。
  • 容易なプログラム作成
    CADやマウンタのデータを利用して部品データやコンタクト座標の入力が行えます。座標マップ表示システムや基準値の自動発生機能をはじめとするテストプログラムの作成支援機能を搭載しており、短時間で容易に検査プログラムを作成できます。
  • ビジョンシステムを搭載
    照度コントロールの可能な赤青二色のLED照明ユニット付きカメラシステムを搭載することにより、電気的に測定できない部品の有無、位置ズレ、装着向き、種類などを検査できます。
  • ICオープンテストシステム(オプション)
    独自技術のセンスプローブ方式により、QFPやSOPのリード足浮きを的確に検出できます。また、リードの形状やランド寸法の制限を受けないため、SOJやBGAなど幅広いICのリード浮きが検出できます。