当社製品「APT-2600FD」紹介記事が EE Times Japan に掲載されました。

このたび、当社が「JPCA Show 2025」にて出展した フライングプローブ式インサーキットテスター「APT-2600FD」が、エレクトロニクス専門メディア「EE Times Japan」にて紹介されました。

本製品は、第21回 JPCA賞（アワード）奨励賞を受賞 しており、展示会でも多くの注目を集めました。記事では、製品の特長や技術的な優位性について詳しく取り上げられています。

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X線が見逃す実装不良も検出　超精密基板向けインサーキットテスター：JPCA賞 奨励賞 – EE Times Japan

今後もタカヤは、先進的な検査技術の開発を通じて、ものづくりの品質向上に貢献してまいります。