第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 の発表資料を公開しました。「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会が、2024年3月13日（水）～ 15日（金）に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。

当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、
「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。

その際の発表資料を公開しましたので、是非ご覧ください。

——– 内容　——–
実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。