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エレクトロニクス実装学会誌に論文を掲載頂きました。

当社論文を 一般社団法人エレクトロニクス実装学会(以下、「JIEP」)発行「エレクトロニクス実装学会誌」Vol.28 No.6(2025年9月号)に掲載頂きました。


掲載論文

「超高速フライング式プリント回路板検査機の開発」
(英題:Development of an Ultra-High-Speed Flying Probe Tester for PCB Assembly Inspection)
著者:柳田 幸輝


論文概要

本論文では、従来の治具式インサーキットテストの課題である高コスト・微細部品へのアクセス困難を解決するために開発した 超高速フライングプローブテスタの新技術について報告し、次世代の高密度実装基板検査における新たな基準を提案しています。

抄録(引用)
フライング式インサーキットテスタは,治具式が抱えていた設計工数の多さ,高額なランニングコスト,微細部品や高密度パターンへのアクセス困難といった課題を克服する革新的な検査技術である。超高速移動するプローブが,プリント回路板上の任意のポイントにミクロン単位の精度でコンタクトすることで,従来技術では対応困難であった高密度プリント回路板に対する新たな検査基準を確立した。

最新モデルでは,JTAG (Joint Test Action Group)テストとの連携機能や,ZEROインパクト技術の搭載により,今後のプリント回路板検査におけるスタンダードとして定着していくことが期待される。


技術賞受賞について

2025年5月、本開発は JIEPが顕彰する「技術賞」を受賞しました。同賞は、JIEPが実装技術の発展・教育などに関する業績や貢献を顕彰する賞の一つで、主に エレクトロニクス実装技術の発展に顕著に寄与した技術に対して授与される賞です。

受賞テーマ:「超高速フライング式プリント回路基板実装検査機の開発」

受賞者:柳田 幸輝、山本 昌裕

フライングプローブテスタが エレクトロニクス実装学会「技術賞」を受賞しました。 | タカヤ株式会社 産業機器事業部サイト


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