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製品情報

フライングプローブテスタ

APT-2600FD

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現。

APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える 次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。

岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込みいただいての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。

関連動画

スペック

プローブ数上面4本 / 下面2本
検査ステップ数最大 350,000ステップ
測定スピード0.02秒/step~
最小コンタクトパッドサイズ50μm
プローブ位置決め繰り返し精度±25μm
最小プロービングピッチ0.15mm
検査可能サイズL540×D483mm
オプションでL890×D483mmまで拡張
使用電源/エアー電源:AC200~240V(単相)
    50/60Hz、最大4.0kVA  
エアー:0.6~0.8MPa(ドライエアー)
寸法、重量W1400×D1500×H1450mm
1450kg

測定範囲

DC電圧 / 電流±125V / ±1A(オプション:±2Aまで)
AC電圧150mV ~ 75Vrms, f = 10Hz ~ 0.5MHz
周波数0.3Hz ~ 20MHz / 2V ~ 20Vp-p
抵抗1mΩ ~ 500MΩ
キャパシタンス0.5pF ~ 100F
インダクタンス0.5μH ~ 500H
インピーダンス / 位相角2.5Ω ~ 3.3MΩ / ±90°
トランスインダクタンス、巻線比、位相差
PN接合VF測定0.1V ~ 40V
ツェナーダイオード電圧0.1V ~ 40V(オプション:max.80Vまで)
オープンチェック閾値5Ω ~ 50MΩで設定可能(標準100Ω以上)
ショートチェック閾値1Ω ~ 500KΩで設定可能(標準10Ω以下)
ダイオード / トランジスタ / FETPN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性
リレー / フォトカプラー / スイッチ素子ONテスト

ハイエンドモデル 標準機能

APT-2400F / APT-2600FDシリーズに標準搭載された先進テクノロジーが 検査の信頼性を新たな次元へ引き上げます。

受賞歴

第55回 機械工業デザイン賞 IDEA 日刊工業新聞創刊110周年記念賞 受賞

2025年7月、日刊工業新聞社が主催する「第55回 機械工業デザイン賞 IDEA」において、「検査効率と信頼性を両立した設計思想」が高く評価され、「日刊工業新聞創刊110周年記念賞」を受賞しました。

2025年度 エレクトロニクス実装学会 技術賞 受賞

本検査機の開発はプリント基板実装業界の生産性向上と品質保証に大きく貢献するものであり、技術賞にふさわしいと評価されました。

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その他

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用途/実績例【採用業界】
 EMS,EMDS企業
 半導体製造装置関係
 通信インフラ・サーバー
 車載・航空機・船舶
 医療機器
 産業機械、ロボット
 FA工作機械
 発電、電力システム


【活用事例】
■量産品の検査 
 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査

■多品種少量基板の検査 
 専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易

■試作基板の検査 
 設計変更に即応したファンクションテスト(基板に電圧を印加し、回路動作(ON/OFF)の確認や直流電流の測定)

■機種切り替え時の実装確認検査 
 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認

■不良解析検査 
 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析

他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。
詳しくは営業担当までお問い合わせください。
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