フライングプローブテスタ
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APT-T400J
新しいスタンダード・インサーキットテスタ
APT-T400Jは、タカヤの技術力を凝縮し、精度と信頼性をそのままに、導入しやすさと実用性を両立したスタンダードモデルです。
試作から量産まで、ものづくりの現場を力強く支えます。
岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込みいただいての評価テストを承ります。
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。
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スペック
| プローブ数 | 4本 |
|---|---|
| 検査ステップ数 | 最大 50,000ステップ |
| 測定スピード | 0.02秒/step～ |
| 最小コンタクトパッドサイズ | 100μm |
| プローブ位置決め繰り返し精度 | ±50μm～ |
| 最小プロービングピッチ | 0.15 mm |
| 検査可能サイズ | L540×D483mm |
| 使用電源/エアー | 電源：AC200～240V（単相） 50/60Hz、最大3.0kVA エアー：0.6～0.8MPa（ドライエアー） |
| 寸法、重量 | W1400×D1500×H1400mm 1350kg（インライン機は1400kg） |
測定範囲
| 抵抗 | 5mΩ ～ 50MΩ |
|---|---|
| キャパシタンス | 1pF ～ 200mF |
| インダクタンス | 2.5μH ～ 500H |
| インピーダンス / 位相角 | 2.5Ω ～ 3.3MΩ / ±90° |
| ダイオード | 0.1V ～ 40V |
| ツェナーダイオード電圧 | 0.1V ～ 40V |
| オープンチェック | 閾値5Ω ～ 50MΩで設定可能（標準100Ω以上） |
| ショートチェック | 閾値1Ω ～ 500KΩで設定可能（標準10Ω以下） |
| トランジスタ / FET / フォトカプラ | ONテスト、特性 |
| ICリード浮き | PN接合VF測定、ICオープンテストプローブによる検出 |
資料請求
その他
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【採用業界】 EMS,EMDS企業 半導体製造装置関係 通信インフラ・サーバー 車載・航空機・船舶 医療機器 産業機械、ロボット FA工作機械 発電、電力システム 【活用事例】 ■量産品の検査 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査 ■多品種少量基板の検査 専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易 ■機種切り替え時の実装確認検査 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認 ■不良解析検査 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析 他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。 |
