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製品情報

フライングプローブテスタ

APT-1400F-SL

業界トップクラスの
超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

APT-1400F-SL はAPT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。
さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。

搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、
電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。

岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。

検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。ご希望の方は『お問い合わせ』よりお申込みください。

関連動画

スペック

プローブ数4本
検査ステップ数最大 350,000ステップ
測定スピード0.03秒/step〜
最小コンタクトパッドサイズ80μm
プローブ位置決め繰り返し精度±30μ~
最小プロービングピッチ0.15 mm
検査可能サイズL635×D610mm
オプションで985x610mmまで拡張
使用電源/エアー電源:AC200~240V(単相)
    50/60Hz、最大2.8kVA  
エアー:0.6~0.8Mpa(ドライエアー)
寸法、重量W1520×D1620×H1400mm
1450kg(インライン機は1500kg)

測定範囲

DC電圧 / 電流±125V / ±1A(オプション:±2Aまで)
AC電圧150mV ~ 75Vrms, f = 10Hz ~ 0.5MHz
周波数1Hz ~ 20MHz / 2V ~ 20Vp-p
抵抗5mΩ ~ 50MΩ *カスタム2mΩ~
キャパシタンス0.5pF ~ 200mF
インダクタンス0.5μH ~ 500H
インピーダンス / 位相角2.5Ω ~ 3.3MΩ / ±90°
トランスインダクタンス、巻線比、位相差
PN接合VF測定0.1V ~ 40V
ツェナーダイオード電圧0.1V ~ 40V(オプション:max.80Vまで)
オープンチェック閾値5Ω ~ 50MΩで設定可能(標準100Ω以上)
ショートチェック閾値1Ω ~ 500KΩで設定可能(標準10Ω以下)
ダイオード / トランジスタ / FETPN接合VF測定、ONテスト、ゲイン、特性
リレー / フォトカプラー / スイッチ素子ONテスト

資料請求

製品のカタログは以下のイプロス特設サイトよりご覧いただけます。

その他

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用途/実績例【採用業界】
 EMS,EMDS企業
 半導体製造装置関係
 通信インフラ・サーバー
 車載・航空機・船舶
 医療機器
 産業機械、ロボット
 FA工作機械
 発電、電力システム


【活用事例】
■量産品の検査 
 ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査

■多品種少量基板の検査 
 専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易

■試作基板の検査 
 設計変更に即応したファンクションテスト(基板に電圧を印加し、回路動作(ON/OFF)の確認や直流電流の測定)

■機種切り替え時の実装確認検査 
 ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認

■不良解析検査 
 機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析

他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。
詳しくは営業担当までお問い合わせください。
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