弊社製インサーキットテスタは、アナログインサーキットテスタやMDA(Munufacturing Defect Analyzer)とも呼ばれており、部品実装されたプリント基板の製造不良を検査する装置です。
基板を動作させることなく個々の部品を検査できることから、基板を破損させることは無く不良箇所の位置も特定でき、プリント基板実装ラインではなくてはならない検査設備となっています。

検査内容
インサーキットテスタは電気的に検査を行うため、部品の定数間違いやコネクタやICリードのマイクロ
ショートによる不良など、目視検査や目視支援検査装置では発見できない不良も確実に発見します。
  • ハンダのショート・オープン不良
  • 抵抗・コンデンサ・コイル等の定数間違いによる不良
  • 抵抗・コンデンサ・コイル・ダイオード・トランジスタ等の部品欠品不良
  • IC・コネクタのリード浮き不良
  • デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認…など
※ 上記は代表的な検査項目です。製品により検査出来ない物や測定範囲は異なります。
製品別の詳細は製品一覧もしくは資料請求を行って頂き、カタログでご確認ください。
特殊検査
  • 電気的に検査不可能な部品の画像検査
  • SOPやQFPなどのハンダ不良検査
  • 簡易ファンクション検査…など
インサーキットテスタの種類
インサーキットテスタ
tree プレス型インサーキットテスタ

  • 高速検査
  • 大量生産(民生用)基板に最適
  • 検査治具(ピンボード)使用
フライングプローブテスタ

  • 検査治具不要(プローブ移動方式)
  • 少量多品種(産業用)基板に最適
  • ファインピッチに対応
プレス型テスタの構成
被検査基板の検査ポイント全てにプローブを立てた検査治具(ピンボード)を機種ごとに製作します。その検査治具に被検査基板をセットしプレスすることで、スキャナー部のリレー切替のみで検査ができ、高速検査を実現します。
構成図
フライングプローブテスタの構成
プレス型のインサーキットテスタとは異なり、検査ポイントにプローブを立てた検査治具を製作するのではなく、4本のアームに取り付けられたプローブが検査ポイントに移動し検査を行います。これにより検査治具を製作する必要が無くなり、アームを動かすための、プログラム作成のみで検査が行えます。
構成図2
テスタの比較
プレス型テスタ フライングプローブテスタ
検査コスト 検査治具代 治具代が不要
治具/データ作成時間 平均10日間 データのみ(1~2日)
プローブ間ピッチ 実用1.27mmピッチ 最小0.2mmピッチ
基板変更の対応 治具の再製作 データ修正のみ
検査速度 約4ms/step~ 最高30~50ms/step